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品牌 | ESDEMC | 型号 | ES621 IV-Curve TLP System |
加工定制 | 是 | 规格 | |
适用范围 |
湖南格雷柏电子科技有限公司
TLP传输线脉冲测试系统
ES621系列动态电流电压曲线传输线脉冲测试系统(ES621 SeriesDynamic IV-CurveTLPSystem)
***的动态电流电压曲线传输线脉冲系统
脉冲IV曲线解决方案ES620便携式脉冲 IV-曲线测试分析系统是我们2015年研发的新一代产品。这是一款***的便携式脉冲IV-曲线特性表征系统,用于模拟静电放电脉冲事件,例如 TLP, vf-TLP, HMM, HBM, EFT, 和 低压浪涌。系统会检测脉冲期间皮秒或纳秒级的瞬态电压和电流波形,并测试脉冲前、后被测器件的状态(漏电流,击穿电压,偏置电流,静态IV曲线,等)。可测的DUT包括静电防护器件,半导体,电路模块,触摸板传感器等。主要系统解决方案:
1.1系统性传输线脉冲(TLP)TLP测试和分析功能符合ANSI/ESD STM5.5.1-2014测试标准。ES620系统能够向器件注入高质量矩形波脉冲,同时记录流经器件的电流和器件两端电压。测试结果能够提供脉冲IV曲线,使用户能够表征器件在纳秒级的瞬态响应。系统还具有***的器件失效自动化检测方法,例如漏电流测试,静态IV曲线,熔断和火花放电。
1.2超快TLP(vf-TLP)Vf-TLP测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.5.2-2007测试标准。vf-TLP 测试用于模拟CDM速度的静电放电,捕捉高速(大约100ps上升沿)状态下器件的电流和电压。用户可以通过这种方法测试器件的响应速度和峰值电压。
1.3人体金属模型(HMM)HMM测试和分析功能符合ANSI/ESD SP5.6-2009测试方法。该方法可以替代IEC61000-4-2中系统级ESD测试方法,用于测试IC。当测试低阻抗器件或者晶圆时,系统的该测试功能可以提供符合IEC61000-4-2标准的理想波形,并且避免许多静电放电枪测试时可能出现的问题。
应用领域:
晶圆级ESD测试
PCB/封装级ESD测试
系统/电路ESD测试
安全工作区(SOA)测试
充电恢复时间测试
查分ESD脉冲注入
触摸屏ITO微带线熔断测试
触摸屏ITO微带线火花放电测试
TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD STM5.5.1-2008标准
Vf-TLP注入电流脉冲符合并超过ANSI/ESD SP 5.5.2-2007标准
对于低阻抗器件,HMM的注入电流脉冲与IEC61000-4-2波形
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